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USB電(diàn)源适配器的失效分(fēn)析方法三

发布时间:2021.08.25 16:46 浏览次数:262
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USB電(diàn)源适配器的失效分(fēn)析方法三
X射線(xiàn)分(fēn)析技术
在USB電(diàn)源适配器工艺失效分(fēn)析中,所使用(yòng)的X射線(xiàn)检查是一种多(duō)用(yòng)途手段。它可(kě)以作為(wèi)确定元件内部状态的纯粹非破坏性方法,也可(kě)以确定内部损坏和性能(néng)下降程度的诊断手段或用(yòng)于帮助解剖,描绘每个元件与其他(tā)元件和外罩的相对接近程度,通过进行两次相差90°的观察,可(kě)以获得有(yǒu)关元件内部几何形状的基本资料,当元件被打开进行直观检查时,可(kě)以找到异常情况。
作為(wèi)一种分(fēn)析手段,X射線(xiàn)照相检查允许直接检查印制電(diàn)路板组件的焊接部位是否存在开裂、分(fēn)离以及各种制造异常现象。X射線(xiàn)的重要用(yòng)途在于可(kě)以对不可(kě)见的部位进行无损伤检查,如USB電(diàn)源适配器PCB焊点、PCB过孔、PCB走線(xiàn)及元件内部结构等。X射線(xiàn)照相检查可(kě)以為(wèi)拆卸和解剖提供很(hěn)大的帮助。
X射線(xiàn)照相过程:
1.从被检查元件或者焊点开始。分(fēn)析人员应当对元件和焊点的已有(yǒu)故障形式有(yǒu)所了解,还应当对元件和焊点的X射線(xiàn)照相检查的优越性有(yǒu)所了解。如果引起半导體(tǐ)器件损坏的原因有(yǒu)可(kě)能(néng)是静電(diàn)放電(diàn),那么,必须密切注意连接引線(xiàn)。有(yǒu)时需要调整元件的方向进行观察。在对元件的近距离观察时,应记下密度反差大的區(qū)域,并用(yòng)阻隔或屏蔽方式进行处理(lǐ),确定检查的最佳取向,随后将元件精确固定在控制系统内,以便能(néng)平移通过所考察的區(qū)域。作為(wèi)准备进行X射線(xiàn)照相分(fēn)析的基本步骤,最好能(néng)提前得到合格元件的比较样品,并从元件制造商(shāng)处获得有(yǒu)关所考察區(qū)域的情况。
2.考虑选择所需采用(yòng)的辐射剂量。根据经验,分(fēn)析人员应具备对所成像目标的尺寸和密度的感性知识,并知道所要使用(yòng)的外加電(diàn)压和電(diàn)平的大致范围。对密度非常大的元件进行成像应特别注意。如果為(wèi)了透过元件需要X射線(xiàn)管耗散比较大瓦数的功率,则可(kě)以通过调节冷却或者增加斑点尺寸来抵消所耗散的大功率。若元件用(yòng)很(hěn)轻的材料构成,比如塑胶,则必须采用(yòng)很(hěn)低的電(diàn)压。
3.将元件固定在X射線(xiàn)系统中,以便进行观察。在第一中提到过了获取最佳观察需要选择元件的方向。然而,固定不仅是对元件定向,较大的元件需要使用(yòng)支架或夹具牢固地安装到控制台上。通常这些元件采用(yòng)金属结构,可(kě)能(néng)干扰X射線(xiàn)照相观察。因此在对元件定位时必须注意。在夹具和元件之间可(kě)以使用(yòng)泡沫衬垫,使在考察元件时易于旋转一定角度。在对静電(diàn)放電(diàn)敏感的元件上,可(kě)以使用(yòng)铜带接地连接到机箱上。可(kě)以用(yòng)铅皮遮盖住由于直接接触X射線(xiàn)而有(yǒu)可(kě)能(néng)招致损坏的元件。
4.实际观察。通过对元件的观察,考虑辐射剂量所需要的调节以及固定元件之后,可(kě)以拍摄到X射線(xiàn)的最佳照相图像。

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