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开关電(diàn)源适配器的老化试验

发布时间:2021.09.06 15:34 浏览次数:264
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开关電(diàn)源适配器的老化试验
开关電(diàn)源适配器在成批或者大批生产中,由于各种原材料、辅助材料及有(yǒu)关工艺条件和设备状况等因素不开避免或多(duō)或少会有(yǒu)些变动,难以100%地安全按工艺要求进行质量控制,尤其一些人為(wèi)的误差因素难以避免。这种制造工艺上及设计上的潜在缺陷,往往导致某些开关電(diàn)源的提前失效,其稳定性和寿命遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于该批产品的平均寿命。可(kě)靠性筛选就是保证该批开关電(diàn)源适配器在使用(yòng)之前先剔除这些早期失效产品,从而使投入使用(yòng)的产品具有(yǒu)较高的可(kě)靠性水平的一项有(yǒu)效技术措施。
可(kě)靠性筛选是一种非破坏性试验。经过筛选后,对某批電(diàn)源来说,它的失效机理(lǐ)和失效分(fēn)布不应该受到影响,反而起到了一种“老化”或者“烧机”作用(yòng),所以又(yòu)称“老化试验”。在开关電(diàn)源适配器或者充電(diàn)器产品中,可(kě)靠性筛选的意义尤其重要。
显然可(kě)靠性筛选需要付出一定的代价,如成本增加、生产周期延長(cháng)等;但相对于在装机、调试中及使用(yòng)现场发现并更换早期失效電(diàn)源所造成的代价来说就微不足道了。特别是对于高可(kě)靠性工程或者航空、宇航等尖端系统更是意义重大。
可(kě)靠性筛选具有(yǒu)如下特点:
1.对于不存在缺陷而性能(néng)良好的产品来说是一种非破坏性试验,而对于有(yǒu)潜在缺陷的产品来说应能(néng)诱发其失效。对于具有(yǒu)潜在缺陷的开关電(diàn)源适配器,采用(yòng)一般的测试方法不能(néng)把它们剔除,只有(yǒu)对它们施加某种应力,使这些潜在缺陷被激活并导致電(diàn)源失效,才能(néng)剔除掉。
2.筛选要对百分(fēn)之百的产品进行,筛选等级是根据对产品的寿命要求和产品的实际工作条件而定的。
3.筛选只能(néng)提高产品的使用(yòng)可(kě)靠性,而不能(néng)提高产品的固有(yǒu)可(kě)靠性。因為(wèi)开关電(diàn)源适配器的可(kě)靠性是由设计、制造工艺和原材料的性能(néng)所决定的,筛选并不能(néng)改善开关電(diàn)源的设计、工艺和 原材料的性能(néng)。筛选是通过剔除早期失效产品来提高开关電(diàn)源适配器可(kě)靠性的。

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